报告题目（Title）：调制傅里叶变换光致发光光谱技术及其对窄带隙半导体的研究应用 Modulated Fourier transform spectroscopy and its application on narrow bandgap semiconductors
报 告 人（Speaker）：陈熙仁 副研究员 (中科院上海技术物理研究所)
报告时间（Time）： 2019年10月23日（周三）15:00-16:00
报告地点（Place）：校本部G309
邀请人（inviter）：查访星
摘要（Abstract）：
光致发光光谱技术是研究半导体电子能级结构和光学性质的有力工具，但长期以来工作波段被局限于波长4μm以短的范围。我们采用步进扫描傅里叶变换调制技术，将红外PL工作波长拓展到20μm，并在最近实现中、长波红外波段的空间扫描成像PL方法。本报告介绍红外调制FT-PL的技术发展，讨论温度/磁场/功率依赖的红外PL光谱方法揭示窄禁带半导体电子结构和光学性质的若干案例，并报道空间扫描成像红外PL的最新进展和应用结果。
