报告题目（Title）： 太赫兹散射式扫描近场光学显微技术研究
报 告 人（Speaker）： 游冠军 (上海理工大学 光电信息与计算机工程学院)
报告时间（Time）： 2019年6月21日 （周五）9:30
报告地点（Place）：校本部G309
邀请人（inviter）：金钻明
报告摘要（Abstract）：传统的光学显微技术通常基于远场测量，受衍射极限的限制，空间分辨率最小约为半波长，这限制了红外和太赫兹波在微纳物质结构探测表征等方面的应用。散射式近场扫描光学显微（scattering-type scanning near-field optical microscopy, s-SNOM）技术，利用纳米探针的近场光学散射把样品表面的倏逝场（近场）转换为可传播的辐射场（远场），进而通过检测此辐射场实现对近场信息的测量。s-SNOM可工作于可见光-红外-太赫兹宽波段，是近年来纳米显微光学技术领域的重要发展方向。本报告将介绍s-SNOM技术的原理和一些典型应用，以及我们近期在THz SNOM技术研究中取得的一些进展。
